在进行纳米级测量两个导体的表面形貌时，常采用的测量仪器为（）

在进行纳米级测量两个导体的表面形貌时，常采用的测量仪器为（）

A.电镜

B.扫描隧道显微镜

C.图像处理技术

正确答案：A